Портативный рентгеновский дифрактометр для промышленных исследований

Образцы с помощью рентгеновского дифракционного прибора, анализ дифракционной картины, материал с составом материала, внутренняя информация, такая как атомная или молекулярная структура или форма (компонент материала, вторичные ингредиенты или микроэлементы информации об идентификаторе кристаллической фазы) , он имеет простую подготовку проб, отсутствие загрязнения, быструю и высокую точность измерения, позволяет получить много информации о целостности кристалла. Это основной метод изучения фазовой и кристаллической структуры вещества.

Именно в рентгеновском луче через расположение образца с использованием технологии геометрии передачи, микрофокусная эмиссия рентгеновской трубки. Рентгеновский луч через коллиматорные частицы порошка облучения в ванне образцов, уникальная система вибрации позволила получить больше частиц кристаллического порошка. подвергается воздействию рентгеновского луча, когда соответствует закону Брэгга о приобретении ПЗС-матрицы за счет дифракционного явления дифракционной картины. Размер выборки в пуле выборок фиксирован, поэтому изменения плотности выборки не влияют на разрешение. Эта особенность особенно важна для материалов с низкой плотностью, таких как образцы лекарств, где более высокое разрешение может быть достигнуто при фиксированной проникающей способности по сравнению с инструментами, основанными на отражающей геометрии.

Преимущество

Портативный

Прибор имеет водонепроницаемую и пыленепроницаемую коробку, универсальную конструкцию машины, без каких-либо механических движущихся частей, легкий и компактный, удобный для переноски, может свободно проводить лабораторные/полевые научные исследования.

Интеграция

XRD интегрирован с технологией XRF, и рентгеновские фотонные данные ОБА XRD и XRF могут быть собраны одновременно во время каждого испытания, предоставляя информацию о составе, фазе и структуре материала, тем самым способствуя более точным результатам испытаний.

Простота в эксплуатации

Прибор прост в эксплуатации, не требует калибровки, автоматическое обнаружение. Отображение полного спектра дифракции в реальном времени, автоматический фазовый анализ — один из ключей к получению количественных результатов.

Простая подготовка проб

Для получения результатов высокого качества для одного анализа требуется всего около 20 мг образца. Подготовка пробы может быть завершена за 3 минуты (измельчение, фильтрация и отбор проб) без выполнения одинаковых операций прессования и соскабливания.

Безопасность

Профессиональная многократная защитная лучевая обработка, отсутствие утечки излучения во всех направлениях при измерительном приборе.

Сценарий применения

Биофармацевтика

Экологический мониторинг

Геология и разведка

Наука и образование

Металлическое соединение

Химия и катализаторы

Параметры продукта

Разрешение рентгеноструктурного анализа	0,2° при 2θ FWHM
Объем XRD	5-55°2θ
Детектор	2000 X 256 пикселей, 2d, уровень 3, ПЗС-матрица Пельтера для охлаждения
Мишень рентгеновской трубки	Рентгеновская трубка с кластерным микрофокальным пятном, мишень из Cu или Co, Cr, Fe, Ni, Mo, Ag, W (опционально в зависимости от тестового образца)
Напряжение рентгеновской трубки	Максимум 50 кВ, регулируемый 0–50 кВ
Мощность рентгеновской трубки	Максимум 40 Вт, регулировка 0–40 Вт
Энергетическое разрешение РФА	127эВ@8кэВ
Диапазон обнаружения РФА	MgâU
Метод охлаждения	Водяное охлаждение
Размер частиц образца	Частицы образца <150 мкм (сито 100 меш)
Вес образца	около 20 мг
Рабочая температура	-10°C-35°C
Вес	15 кг
Источник питания	Литий-ионный аккумулятор или адаптер питания
Размер	50х40х18,8смï¼LÃWÃHï¼
Язык программного обеспечения для анализа CrystalX	Китайский, английский и другие языки

1 стандартная экспортная упаковка: внутренняя защита от столкновений, внешняя экспортная деревянная упаковка.

2 Доставка экспресс, по воздуху, по морю в соответствии с требованиями клиентов, чтобы найти наиболее подходящий способ.

3. Мы несем ответственность за ущерб во время доставки и бесплатно заменим вам поврежденную часть.